Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М. Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев.

М. Наука. 1989г. 152 с. илл. Мягкий переплет, Увеличенный формат.

Излагаются основы теории дифракции рентгеновских лучей в кристаллах высокой степени совершенства и подробно анализируются особенности дифракционного рассеяния в нестандартных схемах дифракции, позволяющие создать новые неразрушающие методы диагностики слоев и границ раздела, еще не нашедшие отражения в научных монографиях. Возможности методов иллюстрируются конкретными примерами исследования технологических процессов микроэлектроники. Для научных работников и инженеров, специализирующихся в области физики твердого тела и полупроводникового материаловедения, а также аспирантов и студентов соответствующих специальностей. Содержание: 1. Дифракция рентгеновских лучей в совершенных кристаллах; 2.

Цена: 320 руб.
Состояние: Хорошее+

Стоимость пересылки книги по России заказной бандеролью по предоплате - 79 руб.

Дополнительные, полноразмерные фото книги: Вид 1.

Представленная книга является БУКИНИСТИЧЕСКОЙ! Книга находится в г.Ставрополь. Доставка в другие города осуществляется Почтой России или транспортными компаниями. Цена книги указана без стоимости доставки. Возможна предоплата или заказ наложенным платежом (оплата при получении). БЕСПЛАТНАЯ ДОСТАВКА ПО РФ при заказе на сумму от 1000 руб.